

-
首页
-
产品中心
- 射频微波通信
- Holzworth相噪分析仪及射频信号源
- Boonton射频功率计及射频信号源
- Noisecom噪声源
- 软件无线电SDR
- 高速存储及射频记录回放系统
- MILLIBOX 毫米波天线暗室系统
- USC 射频开关矩阵
- RANATEC 射频测试设备
- 半导体测试设备
- NCATEST SOC MEMORY ATE测试机
- SINETEST PMIC IGBT ATE测试机
- MTS 射频芯片测试ATE
- EXATRON三温HANDLER
- 半导体特性测试系统
- ITC探针卡测试仪
- 电力电子
- Venable频率响应分析仪
- Vitrek安规分析仪及功率分析仪
- Xitron功率分析仪及校准器
- SineTest 雪崩测试仪
- 数字逻辑
- Multilane误码仪,采样示波器及测试夹具
- Zurich Instruments锁相放大器
- Quantifi Photonics 光通信测试设备
- Fotric 红外热像仪
- PHOTRON 高速摄像机
- Tabor任意波形发生器及射频信号源
- 元器件模块
- Cernex
-
技术服务
-
新闻资讯
-
下载中心
-
关于我们
-
联系我们


-
首页
-
产品中心
- 射频微波通信
- Holzworth相噪分析仪及射频信号源
- Boonton射频功率计及射频信号源
- Noisecom噪声源
- 软件无线电SDR
- 高速存储及射频记录回放系统
- MILLIBOX 毫米波天线暗室系统
- USC 射频开关矩阵
- RANATEC 射频测试设备
- 半导体测试设备
- NCATEST SOC MEMORY ATE测试机
- SINETEST PMIC IGBT ATE测试机
- MTS 射频芯片测试ATE
- EXATRON三温HANDLER
- 半导体特性测试系统
- ITC探针卡测试仪
- 电力电子
- Venable频率响应分析仪
- Vitrek安规分析仪及功率分析仪
- Xitron功率分析仪及校准器
- SineTest 雪崩测试仪
- 数字逻辑
- Multilane误码仪,采样示波器及测试夹具
- Zurich Instruments锁相放大器
- Quantifi Photonics 光通信测试设备
- Fotric 红外热像仪
- PHOTRON 高速摄像机
- Tabor任意波形发生器及射频信号源
- 元器件模块
- Cernex
-
技术服务
-
新闻资讯
-
下载中心
-
关于我们
-
联系我们
PRODUCTS
产品中心
CFP测试夹具
CFP测试夹具
包含:MCB,HCB,LB
Multilane 提供完整的CFP测试夹具,包含MCB,HCB测试夹具和LB测试模块。
包含:MCB,HCB,LB
Multilane 提供完整的CFP测试夹具,包含MCB,HCB测试夹具和LB测试模块。
主要特点
ML4018 MCB测试夹具:
-
从同轴电缆到接口的高性能信号完整性跟踪
-
CFP MSA形状因子
-
低插入损耗罗杰斯4350基材料
-
支持10x10G接口
-
符合MSA的数字诊断和监测接口(DDMI)。
-
状态LED指示灯。
-
TX和RX通道的最大记录道长度为3400密耳
-
每个通道的运行速度高达11.2 Gb/s
-
用于MDIO控制和加载自定义MSA表的用户友好GUI。
ML4014 HCB测试夹具:
-
高性能信号完整性跟踪
-
从同轴电缆到接口。
-
CFP MSA形状因子
-
低插入损耗Nelco N4000-13EP基材料
-
支持单个10x10G收发通道高速信号,可通过40根同轴电缆访问数据,1对同轴电缆访问数据
-
时钟基准。
-
TX和RX通道具有匹配的跟踪长度
-
高速痕迹采用ENIG电镀
-
148针电气连接器
-
每个通道的运行速度高达11.2 Gb/s
ML4013 Loopback 模块:
-
无源CFP环回模块,10个TX和10个RX通道,每通道100 Gb/s运行
-
可编程功耗高达24 W,定制模块可高达40 W
-
自定义内存映射
-
由TX_DIS控制驱动的RX_LOS报警
-
高性能信号完整性跟踪
-
符合MSA的数字诊断和监测接口(DDMI)
-
3状态LED指示灯
-
采用先进的PCB材料制造
-
温度传感
-
插入计数器
-
切断温度,防止模块过热
-
热插拔模块
订货信息
ML4018 CFP MCB测试夹具
ML4014 CFP HCB测试夹具
ML4013 CFP Loopback模块,24W
ML4013-HP CFP Loopback模块,40W