

-
首页
-
产品中心
- 射频微波通信
- Holzworth相噪分析仪及射频信号源
- Boonton射频功率计及射频信号源
- Noisecom噪声源
- 软件无线电SDR
- 高速存储及射频记录回放系统
- MILLIBOX 毫米波天线暗室系统
- USC 射频开关矩阵
- RANATEC 射频测试设备
- 半导体测试设备
- NCATEST SOC MEMORY ATE测试机
- SINETEST PMIC IGBT ATE测试机
- MTS 射频芯片测试ATE
- EXATRON三温HANDLER
- 半导体特性测试系统
- ITC探针卡测试仪
- 电力电子
- Venable频率响应分析仪
- Vitrek安规分析仪及功率分析仪
- Xitron功率分析仪及校准器
- SineTest 雪崩测试仪
- 数字逻辑
- Multilane误码仪,采样示波器及测试夹具
- Zurich Instruments锁相放大器
- Quantifi Photonics 光通信测试设备
- Fotric 红外热像仪
- PHOTRON 高速摄像机
- Tabor任意波形发生器及射频信号源
- 元器件模块
- Cernex
-
技术服务
-
新闻资讯
-
下载中心
-
关于我们
-
联系我们


-
首页
-
产品中心
- 射频微波通信
- Holzworth相噪分析仪及射频信号源
- Boonton射频功率计及射频信号源
- Noisecom噪声源
- 软件无线电SDR
- 高速存储及射频记录回放系统
- MILLIBOX 毫米波天线暗室系统
- USC 射频开关矩阵
- RANATEC 射频测试设备
- 半导体测试设备
- NCATEST SOC MEMORY ATE测试机
- SINETEST PMIC IGBT ATE测试机
- MTS 射频芯片测试ATE
- EXATRON三温HANDLER
- 半导体特性测试系统
- ITC探针卡测试仪
- 电力电子
- Venable频率响应分析仪
- Vitrek安规分析仪及功率分析仪
- Xitron功率分析仪及校准器
- SineTest 雪崩测试仪
- 数字逻辑
- Multilane误码仪,采样示波器及测试夹具
- Zurich Instruments锁相放大器
- Quantifi Photonics 光通信测试设备
- Fotric 红外热像仪
- PHOTRON 高速摄像机
- Tabor任意波形发生器及射频信号源
- 元器件模块
- Cernex
-
技术服务
-
新闻资讯
-
下载中心
-
关于我们
-
联系我们
PRODUCTS
产品中心
QSFP-DD 测试夹具
包括:MCB,HCB,LB等
多通道QSFP-DD开发工具包提供开发基于QSFP-DD的产品所需的必要开发工具和参考模块。该测试套件对于基于QSFP-DD的产品的开发、测试和表征至关重要。它还可用于测试400G CDR、400G变换设备、路由器和线路卡上的400G QSFP-DD端口、电光模块和QSFP-DD有源光缆。
ML4062-MCB测试夹具:
支持8x50G接口
由板载微控制器或外部引脚头驱动的I2C主机
40 GHz 2.92毫米K连接器
电流传感器
匹配的差分轨迹长度
所有8个通道都具有匹配的跟踪长度
从K连接器到QSFP-DD主机连接器的高性能信号完整性跟踪。
车载LED显示MSA输出报警状态
用于MSA输入控制信号的车载按钮/跳线
用于I2C R/W命令和加载自定义MSA内存映射的用户友好GUI
四角测试能力
USB接口
ML4062-MCB-MXP测试夹具:
支持8x50G接口
由板载微控制器或外部引脚头驱动的I2C主机
2x8 Huber+Suhner MXP连接器排
电流传感器
通过可编程开关调节器的内部噪声注入选项
可通过外部电源供电
3.1 V和3.6 V之间的功率裕度
匹配的差分记录道长度
所有8个通道都具有匹配的跟踪长度
从MXP连接器到QSFP-DD主机连接器的高性能信号完整性跟踪。
车载LED显示MSA输出报警状态
用于MSA输入控制信号的车载按钮/跳线
用于I2C R/W命令和加载自定义MSA内存映射的用户友好GUI
四角测试能力
USB接口
ML4062-HCB1测试夹具
高性能信号完整性跟踪
QSFP-DD MSA形状因子
所有记录道都具有相同的低插入损耗
采用高性能PCB材料制造
生产友好型外形因素
支持4x50G
4个通道:Ch1、Ch2、Ch3、Ch4
采用高性能PCB材料制造
可通过K排连接器访问高速信号
ML4062-HCB2测试夹具
高性能信号完整性跟踪
QSFP-DD MSA形状因子
所有记录道都具有相同的低插入损耗
采用高性能PCB材料制造
生产友好型外形因素
支持4x50G
4个通道:Ch5、Ch6、Ch7、Ch8
采用高性能PCB材料制造
可通过K排连接器访问高速信号
ML4062-MCB QSFP-DD MCB测试夹具, 2.92mm接口;选件24 (2.4mm接口)
ML4062-MCB-MXP QSFP-DD MCB测试夹具, MXP接头
ML4062-HCB QSFP-DD HCB测试夹具(包含HCB1,HCB2), 2.92mm接口;选件24(2.4mm接口)