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PRODUCTS
产品中心
功率半导体器件SIC/IGBT动态特性参数测试机 Edison
超低杂感测试主回路, 测试主回路杂感低至6 nH !
卓越共模瞬变抗扰度,共模瞬变抗扰度 (CMTI) 高达200kV/us
高速过流固态保护开关,保护速度2μs 以内
强悍的短路测试能力,10kA级短路电流测试能力放心摸索产品极限
从实验室到生产线的全覆盖
从Si 到SiC 的全覆盖
从晶圆级到器件级的全覆盖
从Discrete 到不同封装Power Module的全覆盖
实验室 & 生产线两版可选
实验室版可灵活配置软件及硬件,测试过程灵活自主,测试结果细致准确
生产线版采用全新自动化方案,无需一测一换,提升测试效率
不同封装功率模块测试工装可选
专业定制不同封装功率半导体模块的测试工装
夹具自主选配,功能随需延展,售后无忧
丰富的测试模式可选
涵盖单脉冲、双脉冲、一类及二类短路等测试项,全面把握器件特性
配套软件已内设测试模式,实现动态参数一站式全测
卓越共模瞬变抗扰度,共模瞬变抗扰度 (CMTI) 高达200kV/us
高速过流固态保护开关,保护速度2μs 以内
强悍的短路测试能力,10kA级短路电流测试能力放心摸索产品极限
从实验室到生产线的全覆盖
从Si 到SiC 的全覆盖
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实验室 & 生产线两版可选
实验室版可灵活配置软件及硬件,测试过程灵活自主,测试结果细致准确
生产线版采用全新自动化方案,无需一测一换,提升测试效率
不同封装功率模块测试工装可选
专业定制不同封装功率半导体模块的测试工装
夹具自主选配,功能随需延展,售后无忧
丰富的测试模式可选
涵盖单脉冲、双脉冲、一类及二类短路等测试项,全面把握器件特性
配套软件已内设测试模式,实现动态参数一站式全测
系统亮点
- 主回路杂感15nH
- 主机部分完全复用,匹配三种Test Head, 实现全品类功率器件测试全覆盖
- 一机覆盖全场景,实验室手测;集成生产线;加装顶升模组,实现离线自动化
- 支持三温测试
DUT类型 |
SiC MOSFET&IGBT |
SiC MOSFET&IGBT |
SiC/GaN/IGBT |
测试范围 |
单脉冲测试、双脉冲测试、短路测试 |
单脉冲测试、双脉冲测试 |
双脉冲测试、短路测试 |
测试最高电压 |
2000V |
1000V |
1500V |
测试电流等级 |
4000A |
1500A |
1000A |
最大短路耐受电流 |
10000A |
|
3000A |
最低主回路杂感 |
15nH |
22nH |
30nH(含陪测管、含docking) |