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功率半导体器件SIC/IGBT动态特性参数测试机 Edison

超低杂感测试主回路, 测试主回路杂感低至6 nH !

卓越共模瞬变抗扰度,共模瞬变抗扰度 (CMTI)  高达200kV/us

高速过流固态保护开关,保护速度2μs 以内

强悍的短路测试能力,10kA级短路电流测试能力放心摸索产品极限

从实验室到生产线的全覆盖
从Si 到SiC 的全覆盖
从晶圆级到器件级的全覆盖
从Discrete 到不同封装Power Module的全覆盖

实验室 & 生产线两版可选
实验室版可灵活配置软件及硬件,测试过程灵活自主,测试结果细致准确

生产线版采用全新自动化方案,无需一测一换,提升测试效率

不同封装功率模块测试工装可选
专业定制不同封装功率半导体模块的测试工装

夹具自主选配,功能随需延展,售后无忧

丰富的测试模式可选
涵盖单脉冲、双脉冲、一类及二类短路等测试项,全面把握器件特性

配套软件已内设测试模式,实现动态参数一站式全测

 

 

 

系统亮点

  

  • 主回路杂感15nH
  • 主机部分完全复用,匹配三种Test Head, 实现全品类功率器件测试全覆盖
  • 覆盖全场景,实验室手测;集成生产线;加装顶升模组,实现离线自动化
  • 支持三温测试

 

DUT类型

SiC MOSFET&IGBT

SiC MOSFET&IGBT

SiC/GaN/IGBT

测试范围

单脉冲测试、双脉冲测试、短路测试

单脉冲测试、双脉冲测试

双脉冲测试、短路测试

测试最高电压

2000V

1000V

1500V

测试电流等级

4000A

1500A

1000A

最大短路耐受电流

10000A

 

3000A

最低主回路杂感

15nH

22nH

30nH(含陪测管、含docking)

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