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PRODUCTS
产品中心
MAXWELL
功率半导体器件SIC/IGBT静态特性参数测试机 Maxwell
测试精度高：
· 电流源精度：pA 级
· 电压源精度：mV 级
· 电阻测量精度：μΩ级
· 电容测量精度：pF 级
测试指标宽
·具有大电流输出测量能力(1000A/1500A,支持扩展升级)
·超宽范围饱和压降测试能力
·超窄脉宽测试能力，最小脉宽50us
测试范围全
· 同时满足SiC MOSFET和Si IGBT 器件测试
·覆盖从器件级到不同封装功率模块的全范围测试
·全自动切换测试电路，所有静态参数一键全测
· 电流源精度：pA 级
· 电压源精度：mV 级
· 电阻测量精度：μΩ级
· 电容测量精度：pF 级
测试指标宽
·具有大电流输出测量能力(1000A/1500A,支持扩展升级)
·超宽范围饱和压降测试能力
·超窄脉宽测试能力，最小脉宽50us
测试范围全
· 同时满足SiC MOSFET和Si IGBT 器件测试
·覆盖从器件级到不同封装功率模块的全范围测试
·全自动切换测试电路，所有静态参数一键全测
系统亮点
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· 可搭配3种不同测试头，支持单管及功率模块的全覆盖，复用主机，实现实验室与生产线应用场景的
全面覆盖
· 支持三温测试
· 支持升级自动化顶升模组，实现离线批量测试
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DUT类型
SiC/GaN/IGBT
SiC MOSFET&IGBT功率模块/ 少量单管
SiC MOSFET&IGBT功率模块
测试电压范围
0~3500V
0~3500V
0~3500V
测试电流范围
0~500A
0~1500A(电流支持扩展升级) 高精度全自动测试，需手动插拔
0~1000A(电流支持扩展升级)
满足产线化测试需求，可实现全自动测试
